{"title":"Four Point Probe","description":"\u003cp\u003eFour point probe mengukur sheet resistance dan resistivitas: arus dialirkan lewat dua probe luar, sementara dua probe dalam mengukur tegangan, sehingga hambatan kontak tidak memengaruhi hasil. Alat ini dipakai untuk film konduktif, kaca ITO dan FTO, semikonduktor, dan pelapis.\u003c\/p\u003e\u003ch3\u003eCara memilih\u003c\/h3\u003e\u003cul\u003e\u003cli\u003e\u003cb\u003eSistem:\u003c\/b\u003e Ossila Four Point Probe Original (T2001A4\/B4) atau Plus (T2001A5\/B5).\u003c\/li\u003e\u003cli\u003e\u003cb\u003eKepala probe:\u003c\/b\u003e ujung lunak untuk film tipis yang rapuh, ujung tajam untuk permukaan keras, atau keduanya; kepala pengganti P2010A2 dan P2010B1.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\u003cp\u003eButuh bantuan memilih model atau penawaran resmi (PO, faktur pajak, e-katalog)? Hubungi tim AMI Scientific lewat tombol WhatsApp.\u003c\/p\u003e","products":[{"product_id":"os240002","title":"Ossila Four Point Probe Original Soft-tipped probe head T2001A4","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eAlat ukur empat titik (four-point probe) Ossila Original dengan kepala probe ujung lunak (T2001A4) adalah instrumen meja untuk karakterisasi lapisan tipis melalui pengukuran resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas. Rentang resistansi lembarannya 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq, dengan arus 1 μA hingga 200 mA dan tegangan 100 μV hingga 10 V.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eKonfigurasi ini memakai probe berlapis emas berpegas dengan ujung membulat berjari-jari 0,24 mm. Probe tertarik masuk ke kepala saat menyentuh sampel sehingga gaya tekan tersebar dan gaya seragam 60 gram diterapkan. Karena itu kepala ini cocok untuk material organik dan lapisan yang sangat tipis, namun tidak untuk silikon atau material lain yang secara alami membentuk lapisan oksida isolator.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eModel Original dioperasikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite, yang menghitung faktor koreksi geometri, resistivitas, dan konduktivitas serta menyimpan data dalam format .csv. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara kontrol ketinggian mikrometer dan meja antiselip membantu memperoleh kontak listrik yang baik.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMengukur resistansi lembaran lapisan tipis yang rapuh tanpa merusak permukaannya.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMenentukan resistivitas dan konduktivitas lapisan material organik bila ketebalan sampel diketahui.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMengevaluasi pelapis konduktif seperti indium tin oxide melalui pengukuran resistansi lembaran.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi listrik rutin sampel lapisan tipis hingga berukuran 152,4 mm.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: T2001A4\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Resistansi Lembaran: 100 mΩ\/sq – 10 MΩ\/sq\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Tegangan Terapan: ±10 mV – ±10 V\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePresisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJenis Probe: Ujung lunak, berlapis emas, berpegas\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJari-jari Ujung Probe: 0,24 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGaya Probe: 60 gram\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak Antar-Probe: 1,27 mm (0,05\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eUkuran Sampel Persegi Panjang: Sisi panjang minimum: 5 mm (0,20\u0026quot;); Sisi pendek maksimum: 152,4 mm (6\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter Sampel Bulat: 5 mm – 152,4 mm (0,20\u0026quot; – 6,00\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKetebalan Sampel Maksimum: 8 mm (0,31\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDimensi (L x T x D): 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71\u0026quot; x 5,91\u0026quot; x 9,45\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePerangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eLapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau saat digunakan pada sampel yang korosif, abrasif, atau asam, terutama di bawah beban listrik. Emas juga dapat berdifusi ke material seperti tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif saat arus besar.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902078566618,"sku":"OS240002","price":84686000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/four-point-probe-product-photo_380x380_e0871a45-90c1-4a83-913b-2fbd1648a190.jpg?v=1779263411"},{"product_id":"os240057","title":"Ossila Soft-tipped Four Point Probe Head P2010A2","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila P2010A2 adalah kepala probe empat titik (four-point probe head) ujung lunak untuk sistem Ossila Four-Point Probe. Dengan kepala probe ini, Anda dapat mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas sampel menggunakan metode empat titik.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eKeempat probe dilapisi emas agar kontak listriknya baik. Ujungnya membulat dan dilengkapi pegas, sehingga menekan sampel dengan gaya merata hingga 60 gram dan tidak menusuk permukaan seperti probe tajam. Kerusakan pada sampel pun dapat dikurangi atau dihindari, sehingga cocok untuk lapisan tipis dan pelapis yang rapuh.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eJarak antarprobe 1,27 mm (0,05\u0026quot;), radius probe 0,24 mm, dan langkah probe 1,4 mm. Probe terbuat dari paduan kuningan berlapis emas dan nikel. Kepala probe menggunakan konektor SMA, mampu menerima arus maksimum 2 A, dan memiliki galat pengukuran ±4%.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMengukur resistansi lembaran lapisan tipis dan sampel berlapis dengan Ossila Four-Point Probe.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMenentukan resistivitas dan konduktivitas material konduktif.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMengkarakterisasi sampel rapuh yang permukaannya dapat tergores atau rusak oleh ujung probe tajam.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: P2010A2\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak Antarprobe: 1,27 mm (0,05\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRadius Probe: 0,24 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eLangkah Probe: 1,4 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGaya Pegas: 25 - 60 gram\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eArus Maksimum: 2 A\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGalat Pengukuran: ±4%\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMaterial Probe: Paduan kuningan berlapis emas dan nikel\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektor: SMA\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eLapisan emas dapat aus dalam kondisi lembap atau saat digunakan pada sampel korosif, abrasif, atau asam, terutama ketika arus sedang mengalir. Emas juga dapat berdifusi ke material seperti tembaga, aluminium, timah, dan silikon pada suhu tinggi, yang dapat timbul akibat pemanasan resistif pada arus tinggi. Perhatikan kondisi ini saat memilih sampel dan besar arus.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902080598234,"sku":"OS240057","price":7473000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/four-point-probe-soft-point-head-product-photo_380x380_3a3e7426-6041-451b-83a1-b17db2406e9a.jpg?v=1779265727"},{"product_id":"os240058","title":"Ossila Sharp-tipped Four Point Probe Head P2010B1","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila P2010B1 adalah kepala probe empat titik (four-point probe head) berujung tajam untuk Ossila Four-Point Probe. Kepala probe ini digunakan untuk mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas, khususnya pada material yang secara alami membentuk lapisan oksida di permukaannya.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eProbe dibuat dari tungsten karbida berlapis nikel dengan diameter ujung 0,08 mm. Pada langkah maksimum, probe memberikan gaya 197,43 gf sehingga mampu menembus lapisan oksida yang bersifat isolator dan menghasilkan kontak yang andal dengan material di bawahnya. Jarak antarprobe 1,6 mm (0,063\u0026quot;), langkah probe 1,19 mm, dan konstanta pegas 159,22 gf\/mm. Sambungan ke instrumen menggunakan konektor SMA.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUntuk memakai kepala probe ini, Ossila Four-Point Probe memerlukan firmware layar versi 1.1.0 atau yang lebih baru, yang dapat diunduh dari situs Ossila.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMengukur resistansi lembaran pada sampel yang memiliki lapisan oksida alami.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMenentukan resistivitas material dengan Ossila Four-Point Probe.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMengukur konduktivitas material yang lapisan oksida permukaannya perlu ditembus agar kontak andal.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: P2010B1\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak Probe: 1,6 mm (0,063\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter Ujung Probe: 0,08 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eLangkah Probe: 1,19 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGaya pada Langkah Maksimum: 197,43 gf\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonstanta Pegas: 159,22 gf\/mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMaterial Probe: Tungsten karbida berlapis nikel\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eSambungan: SMA\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eFirmware yang Diperlukan: Firmware layar versi 1.1.0 atau lebih baru\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eJangan melampaui langkah probe maksimum 1,19 mm karena dapat merusak atau menghancurkan substrat.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902080631002,"sku":"OS240058","price":24908000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/four-point-probe-hard-point-head-product-photo_380x380_6916824b-dc71-4727-a6c3-2ec0f36bc2a0.jpg?v=1779265749"},{"product_id":"os240136","title":"Ossila Four Point Probe Original Sharp-tipped probe head T2001B4","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila Four-Point Probe Original (T2001B4) dengan kepala probe ujung tajam (sharp-tipped probe head) adalah sistem meja untuk mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas film tipis hanya dalam hitungan detik. Rentang pengukurannya 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq, dengan arus 1 μA hingga 200 mA dan tegangan 100 μV hingga 10 V.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eKepala probe ujung tajam dirancang untuk material keras yang secara alami membentuk lapisan oksida isolator, seperti silikon. Probe tungsten karbida berlapis nikel dengan diameter ujung 0,08 mm ini mampu memberikan gaya maksimum 197,43 gf untuk menembus lapisan oksida dan menyentuh material secara langsung. Jarak antarprobe 1,6 mm (0,063\u0026quot;).\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eModel Original dikendalikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite, yang menghitung faktor koreksi geometri, menentukan resistivitas dan konduktivitas dari dimensi sampel, serta menyimpan data dalam format .csv. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara kontrol ketinggian mikrometer dan meja sampel antiselip membantu kontak listrik yang baik di setiap pengukuran.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003ePengukuran resistansi lembaran pada silikon dan material lain yang memiliki lapisan oksida isolator alami.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi resistivitas dan konduktivitas film tipis berdasarkan ketebalan sampel.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eEvaluasi lapisan konduktif seperti indium tin oxide melalui pengukuran resistansi lembaran.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi listrik rutin untuk sampel bulat atau persegi panjang hingga 152,4 mm.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: T2001B4\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJenis probe: Ujung tajam, tungsten karbida berlapis nikel\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter ujung: 0,08 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGaya probe maksimum: 197,43 gf\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak antarprobe: 1,6 mm (0,063\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang resistansi lembaran: 100 mΩ\/sq – 10 MΩ\/sq\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang tegangan terapan: ±10 mV – ±10 V\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePresisi pengukuran tegangan: ±333 μV\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang pengukuran arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eUkuran sampel persegi panjang: Sisi panjang minimum: 6 mm (0,24\u0026quot;); Sisi pendek maksimum: 152,4 mm (6\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter sampel bulat: 6 mm – 152,4 mm (0,24\u0026quot; – 6,00\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKetebalan sampel maksimum: 5 mm (0,2\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71\u0026quot; x 5,91\u0026quot; x 9,45\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePerangkat lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003ePenggunaan kepala probe ujung tajam memerlukan firmware layar versi 1.1.0 atau yang lebih baru pada instrumen. Kepala probe dapat menambah galat pengukuran hingga 4%, sehingga perlu diperhitungkan saat menilai hasil.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902084137178,"sku":"OS240136","price":99630000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/four-point-probe-product-photo_380x380_32f8e4ba-e7c9-4b1a-b8f6-9141ab54ba28.jpg?v=1779344850"},{"product_id":"os240137","title":"Ossila Four Point Probe Original Both probe head T2001A4-P2010B1","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila Four-Point Probe Original (T2001A4-P2010B1) adalah alat ukur empat titik (four-point probe) untuk menentukan resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas lapisan tipis. Konfigurasi ini dilengkapi dua probe head, yaitu satu berujung lunak dan satu berujung tajam, sehingga satu instrumen dapat menangani lapisan yang rapuh maupun material keras seperti silikon. Model Original dioperasikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eProbe head ujung lunak memakai kontak bulat berpegas berlapis emas yang memberikan gaya seragam 60 gram, cocok untuk material organik dan film yang sangat tipis. Probe head ujung tajam menggunakan probe tungsten karbida berlapis nikel yang mampu menembus lapisan oksida isolator dengan gaya maksimum 197,43 gf.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eRentang pengukuran resistansi lembaran mencakup 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara pengatur ketinggian mikrometer dan stage antiselip membantu kontak listrik yang baik. Perangkat lunak menghitung faktor koreksi geometri dan menyimpan data dalam file .csv.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMengukur resistansi lembaran pada lapisan tipis seperti indium tin oxide.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMengkarakterisasi film organik yang rapuh atau lapisan sangat tipis dengan probe head ujung lunak.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMenguji silikon dan material lain yang membentuk lapisan oksida alami dengan probe head ujung tajam.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMenghitung resistivitas dan konduktivitas sampel dari resistansi lembaran dan ketebalan yang dimasukkan.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMerekam data pengukuran ke file .csv untuk diolah di perangkat lunak analisis.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: T2001A4-P2010B1\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Resistansi Lembaran: 100 mΩ\/sq – 10 MΩ\/sq\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Tegangan Terpasang: ±10 mV – ±10 V\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePresisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eProbe Head yang Disertakan: 1 x probe head ujung lunak \u0026amp; 1 x probe head ujung tajam\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eProbe Ujung Lunak: Bulat, berpegas, berlapis emas; radius 0,24 mm; gaya 60 gram\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eProbe Ujung Tajam: Tungsten karbida berlapis nikel; diameter ujung 0,08 mm; gaya maks. 197,43 gf\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak Probe (Lunak \/ Tajam): 1,27 mm \/ 1,6 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter Sampel Bulat (Lunak \/ Tajam): 5 mm – 152,4 mm \/ 6 mm – 152,4 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKetebalan Sampel Maksimum (Lunak \/ Tajam): 8 mm \/ 5 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePerangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eLapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau pada sampel yang korosif, abrasif, maupun asam, terutama saat dialiri arus. Emas juga dapat berdifusi ke tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif pada arus tinggi. Gunakan probe head ujung tajam untuk silikon dan material pembentuk oksida.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902084169946,"sku":"OS240137","price":104612000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/four-point-probe-product-photo_380x380_32f8e4ba-e7c9-4b1a-b8f6-9141ab54ba28.jpg?v=1779344850"},{"product_id":"os240138","title":"Ossila Four Point Probe Plus Soft-tipped probe head T2001A5","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila Four-Point Probe Plus (T2001A5) adalah sistem probe empat titik (four-point probe) meja untuk mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas film tipis hanya dalam hitungan detik. Konfigurasi ini dilengkapi kepala probe ujung lunak (soft-tipped probe head) yang dirancang untuk sampel rapuh seperti material organik dan film yang sangat tipis.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eProbe berlapis emas memiliki ujung membulat dengan radius 0,24 mm dan dipasang pada pegas, sehingga tertarik masuk ke kepala probe saat menyentuh sampel dan memberikan gaya seragam 60 gram tanpa merusak permukaan. Probe ujung lunak tidak cocok untuk silikon atau material lain yang secara alami membentuk lapisan oksida isolator. Sistem ini mencakup resistansi lembaran 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq, arus 1 μA hingga 200 mA, dan tegangan 100 μV hingga 10 V.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eModel Plus memiliki layar terintegrasi sehingga pengukuran dapat dilakukan cukup dengan satu tombol tanpa PC, praktis untuk digunakan di dalam glove box. Alat ini juga dapat dikendalikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite yang menyimpan data dalam format .csv. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara kontrol ketinggian mikrometer dan meja antiselip membantu kontak listrik yang konsisten.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003ePengukuran resistansi lembaran pada film tipis yang rapuh dan material organik.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePerhitungan resistivitas dan konduktivitas dari resistansi lembaran dan dimensi sampel yang dimasukkan.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi film tipis secara mandiri di dalam glove box menggunakan layar terintegrasi.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePenelitian perubahan lapisan konduktif seperti indium tin oxide melalui pengukuran resistansi lembaran.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: T2001A5\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Resistansi Lembaran: 100 mΩ\/sq – 10 MΩ\/sq\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Tegangan Terapan: ±10 mV – ±10 V\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePresisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJenis Probe: Ujung lunak, berlapis emas, berpegas\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRadius Ujung Probe: 0,24 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGaya Probe: 60 gram\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak Antar Probe: 1,27 mm (0,05\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eUkuran Sampel Persegi Panjang: Sisi panjang minimum: 5 mm (0,20\u0026quot;); Sisi pendek maksimum: 152,4 mm (6\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter Sampel Bulat: 5 mm – 152,4 mm (0,20\u0026quot; – 6,00\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKetebalan Sampel Maksimum: 8 mm (0,31\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71\u0026quot; x 5,91\u0026quot; x 9,45\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePerangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eLapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau saat digunakan pada sampel korosif, abrasif, atau asam, terutama di bawah beban listrik. Emas juga dapat berdifusi ke material seperti tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif pada arus tinggi.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902084202714,"sku":"OS240138","price":104612000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/Four-Point-Probe-Focus-Stack-Product-Image_380x380_e8e30ecb-2595-4fd6-b1a8-8e1f88d0d236.jpg?v=1779344934"},{"product_id":"os240139","title":"Ossila Four Point Probe Plus Sharp-tipped probe head T2001B5","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila Four-Point Probe Plus (T2001B5) adalah sistem pengukur empat titik (four-point probe) untuk menentukan resistansi lembar (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas film tipis. Konfigurasi ini dilengkapi kepala probe ujung tajam yang ditujukan untuk material keras seperti silikon, yang secara alami membentuk lapisan oksida isolator. Probe tungsten karbida berlapis nikel dengan diameter ujung 0,08 mm mampu memberikan gaya hingga 197,43 gf untuk menembus lapisan tersebut dan menyentuh material secara langsung.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eModel Plus memiliki layar terintegrasi sehingga pengukuran dapat dilakukan dengan satu tombol tanpa PC, cocok untuk digunakan di dalam glove box. Sistem juga dapat dikendalikan melalui komputer dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite, yang menyimpan data dalam format .csv dan menghitung faktor koreksi geometri.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eRentang resistansi lembar yang dapat diukur adalah 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara kontrol ketinggian mikrometer dan meja anti-selip membantu kontak listrik yang baik pada setiap pengukuran.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003ePengukuran resistansi lembar silikon dan material lain yang memiliki lapisan oksida isolator alami.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi resistivitas dan konduktivitas film tipis dengan memasukkan ketebalan sampel.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePengukuran mandiri di dalam glove box menggunakan layar terintegrasi.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi lapisan konduktif seperti indium tin oxide.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: T2001B5\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJenis probe: Ujung tajam, tungsten karbida berlapis nikel\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter ujung: 0,08 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eGaya probe maksimum: 197,43 gf\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak antar probe: 1,6 mm (0,063\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang resistansi lembar: 100 mΩ\/sq – 10 MΩ\/sq\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang tegangan terapan: ±10 mV – ±10 V\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePresisi pengukuran tegangan: ±333 μV\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang pengukuran arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eUkuran sampel persegi panjang: Sisi panjang minimum: 6 mm (0,24\u0026quot;); Sisi pendek maksimum: 152,4 mm (6\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter sampel bulat: 6 mm – 152,4 mm (0,24\u0026quot; – 6,00\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKetebalan sampel maksimum: 5 mm (0,2\u0026quot;)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eFirmware layar yang diperlukan: Versi 1.1.0 atau lebih baru\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902084235482,"sku":"OS240139","price":119556000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/Four-Point-Probe-Focus-Stack-Product-Image_380x380_e8e30ecb-2595-4fd6-b1a8-8e1f88d0d236.jpg?v=1779344934"},{"product_id":"os240140","title":"Ossila Four Point Probe Plus Both probe head T2001A5-P2010B1","description":"\u003ch3\u003eDeskripsi\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eOssila Four-Point Probe Plus adalah alat ukur empat titik (four-point probe) untuk meja laboratorium yang menentukan resistansi lembar (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas lapisan tipis hanya dalam hitungan detik. Paket ini dilengkapi dua kepala probe yang dapat ditukar, yaitu ujung lunak dan ujung tajam, sehingga satu sistem mampu menangani sampel rapuh maupun keras pada rentang resistansi lembar 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eKepala probe ujung lunak memakai pin membulat berlapis emas dengan pegas yang memberikan gaya seragam 60 gram, sehingga aman untuk material organik dan film sangat tipis. Kepala probe ujung tajam memakai pin tungsten karbida berlapis nikel dengan gaya maksimum 197,43 gf untuk menembus lapisan oksida alami pada material seperti silikon.\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eModel Plus memiliki layar bawaan sehingga pengukuran dapat dilakukan cukup dengan satu tombol tanpa PC, cocok untuk pemakaian di dalam glove box. Alat juga dapat dikendalikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite yang menyimpan data dalam format .csv dan menghitung faktor koreksi geometri. Pengukuran polaritas positif dan negatif, kontrol ketinggian mikrometer, serta stage antiselip membantu kontak yang akurat dan konsisten.\u003c\/p\u003e\n\u003ch3\u003eAplikasi Laboratorium\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMengukur resistansi lembar lapisan tipis pada rentang 100 mΩ\/sq hingga 10 MΩ\/sq.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKarakterisasi film organik atau film sangat tipis yang rapuh menggunakan kepala probe ujung lunak.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePengukuran silikon dan material lain berlapis oksida isolator menggunakan kepala probe ujung tajam.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePengukuran mandiri di dalam glove box memanfaatkan layar bawaan.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eMenghitung resistivitas dan konduktivitas lapisan dari resistansi lembar dan ketebalan sampel.\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eStudi perubahan resistansi lembar pada lapisan seperti indium tin oxide.\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003eSpesifikasi\u003c\/h3\u003e\n\u003cul\u003e\u003cli\u003eMerek: Ossila\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKode produk: T2001A5-P2010B1\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Resistansi Lembar: 100 mΩ\/sq – 10 MΩ\/sq\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Tegangan Terapan: ±10 mV – ±10 V\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePresisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eRentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDimensi (L x T x D): 145 mm x 150 mm x 240 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKepala Probe yang Disertakan: 1 x kepala probe ujung lunak \u0026amp; 1 x kepala probe ujung tajam\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eProbe Ujung Lunak: Membulat, berlapis emas, berpegas; gaya 60 gram; radius ujung 0,24 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eProbe Ujung Tajam: Tungsten karbida berlapis nikel; gaya maks. 197,43 gf; diameter ujung 0,08 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eJarak Antar Probe (lunak \/ tajam): 1,27 mm \/ 1,6 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eDiameter Sampel Bulat (lunak \/ tajam): 5 mm – 152,4 mm \/ 6 mm – 152,4 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKetebalan Sampel Maksimum (lunak \/ tajam): 8 mm \/ 5 mm\u003c\/li\u003e\u003cli\u003ePerangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)\u003c\/li\u003e\u003cli\u003eKonektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)\u003c\/li\u003e\u003c\/ul\u003e\n\u003ch3\u003ePenanganan dan Penyimpanan\u003c\/h3\u003e\n\u003cp\u003eLapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau saat digunakan pada sampel korosif, abrasif, atau asam, terutama di bawah beban listrik. Emas juga dapat berdifusi ke tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif pada arus besar. Probe ujung lunak tidak cocok untuk silikon atau material yang membentuk lapisan oksida isolator. Kepala probe ujung tajam memerlukan firmware layar versi 1.1.0 atau yang lebih baru.\u003c\/p\u003e","brand":"Ossila","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":47902084268250,"sku":"OS240140","price":124538000.0,"currency_code":"IDR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0756\/7156\/8602\/files\/Four-Point-Probe-Focus-Stack-Product-Image_380x380_e8e30ecb-2595-4fd6-b1a8-8e1f88d0d236.jpg?v=1779344934"}],"url":"https:\/\/amiscientific.com\/collections\/four-point-probe.oembed","provider":"AMI Scientific","version":"1.0","type":"link"}