• Sistem Probe Ossila P2010A2 (System Soft-Tipped Four Point Probe Head) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Ossila Soft-tipped Four Point Probe Head P2010A2

Ossila Soft-tipped Four Point Probe Head P2010A2
Rp 7.846.650,00
Rp 7.846.650,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Ossila P2010A2 adalah kepala probe empat titik (four-point probe head) ujung lunak untuk sistem Ossila Four-Point Probe. Dengan kepala probe ini, Anda dapat mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas sampel menggunakan metode empat titik.

Keempat probe dilapisi emas agar kontak listriknya baik. Ujungnya membulat dan dilengkapi pegas, sehingga menekan sampel dengan gaya merata hingga 60 gram dan tidak menusuk permukaan seperti probe tajam. Kerusakan pada sampel pun dapat dikurangi atau dihindari, sehingga cocok untuk lapisan tipis dan pelapis yang rapuh.

Jarak antarprobe 1,27 mm (0,05"), radius probe 0,24 mm, dan langkah probe 1,4 mm. Probe terbuat dari paduan kuningan berlapis emas dan nikel. Kepala probe menggunakan konektor SMA, mampu menerima arus maksimum 2 A, dan memiliki galat pengukuran ±4%.

Produk terkait

  • Mengukur resistansi lembaran lapisan tipis dan sampel berlapis dengan Ossila Four-Point Probe.
  • Menentukan resistivitas dan konduktivitas material konduktif.
  • Mengkarakterisasi sampel rapuh yang permukaannya dapat tergores atau rusak oleh ujung probe tajam.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: P2010A2
  • Jarak Antarprobe: 1,27 mm (0,05")
  • Radius Probe: 0,24 mm
  • Langkah Probe: 1,4 mm
  • Gaya Pegas: 25 - 60 gram
  • Arus Maksimum: 2 A
  • Galat Pengukuran: ±4%
  • Material Probe: Paduan kuningan berlapis emas dan nikel
  • Konektor: SMA

Lapisan emas dapat aus dalam kondisi lembap atau saat digunakan pada sampel korosif, abrasif, atau asam, terutama ketika arus sedang mengalir. Emas juga dapat berdifusi ke material seperti tembaga, aluminium, timah, dan silikon pada suhu tinggi, yang dapat timbul akibat pemanasan resistif pada arus tinggi. Perhatikan kondisi ini saat memilih sampel dan besar arus.

—

Produk Terkait