Ossila P2010B1 adalah kepala probe empat titik (four-point probe head) berujung tajam untuk Ossila Four-Point Probe. Kepala probe ini digunakan untuk mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas, khususnya pada material yang secara alami membentuk lapisan oksida di permukaannya.
Probe dibuat dari tungsten karbida berlapis nikel dengan diameter ujung 0,08 mm. Pada langkah maksimum, probe memberikan gaya 197,43 gf sehingga mampu menembus lapisan oksida yang bersifat isolator dan menghasilkan kontak yang andal dengan material di bawahnya. Jarak antarprobe 1,6 mm (0,063"), langkah probe 1,19 mm, dan konstanta pegas 159,22 gf/mm. Sambungan ke instrumen menggunakan konektor SMA.
Untuk memakai kepala probe ini, Ossila Four-Point Probe memerlukan firmware layar versi 1.1.0 atau yang lebih baru, yang dapat diunduh dari situs Ossila.
- Mengukur resistansi lembaran pada sampel yang memiliki lapisan oksida alami.
- Menentukan resistivitas material dengan Ossila Four-Point Probe.
- Mengukur konduktivitas material yang lapisan oksida permukaannya perlu ditembus agar kontak andal.
| Merek | Ossila |
|---|---|
| Nomor CAS | — |
| Rumus molekul | — |
| Kemurnian | — |
| Kategori | — |
| Ukuran kemasan | — |
| Bentuk fisik | — |
| Penyimpanan | — |
- Kode produk: P2010B1
- Jarak Probe: 1,6 mm (0,063")
- Diameter Ujung Probe: 0,08 mm
- Langkah Probe: 1,19 mm
- Gaya pada Langkah Maksimum: 197,43 gf
- Konstanta Pegas: 159,22 gf/mm
- Material Probe: Tungsten karbida berlapis nikel
- Sambungan: SMA
- Firmware yang Diperlukan: Firmware layar versi 1.1.0 atau lebih baru
Jangan melampaui langkah probe maksimum 1,19 mm karena dapat merusak atau menghancurkan substrat.
—
