• Sistem Probe Ossila T2009C1 (System Manual Probe Station With Two Micromanipulators) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Stasiun Probe Manual dengan Dua Mikromanipulator T2009C1 Ossila

Stasiun Probe Manual dengan Dua Mikromanipulator T2009C1 Ossila
Rp 272.513.850,00
Rp 272.513.850,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Readout/minimum fine motion
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Stasiun probe manual (manual probe station) Ossila T2009C1 adalah sistem meja ringkas untuk pengukuran listrik dengan probe secara manual yang stabil, terutama untuk eksperimen elektronika skala kecil seperti pengukuran I-V dan C-V serta pengujian perangkat atau komponen tunggal. Konfigurasi ini dilengkapi dua mikromanipulator, tersedia dengan pembacaan mikrometer 10 µm (gerak terkecil sekitar 4-8 µm) atau 5 µm (gerak terkecil sekitar 2-4 µm).

Sampel berdiameter 5 mm hingga 150 mm ditahan oleh chuck vakum aluminium yang rata dan di-ground, dengan enam zona vakum yang dapat dipilih. Dudukan elastomer meredam getaran, dan chuck terisolasi secara listrik untuk pengukuran rendah derau. Mikroskop zoom monokuler dengan sensor Sony 4K mengirim video langsung hingga 60 fps melalui USB 3.0 atau HDMI ke monitor 15,6" pada lengan yang dapat diatur, sementara dudukan mikroskop yang dapat diayun membuat area stage tetap leluasa saat mengganti sampel.

Alas optical breadboard aluminium dengan jarak lubang 25 mm dan platen baja tahan karat feromagnetik memudahkan pengembangan sistem: platen menampung hingga delapan mikromanipulator Ossila, dan komponen tambahan dapat dipasang untuk eksperimen yang lebih khusus. Chuck kompatibel dengan berbagai pompa vakum, termasuk Ossila Diaphragm Vacuum Pump.

Produk terkait

  • Karakterisasi arus-tegangan (I-V) pada perangkat elektronik.
  • Pengukuran kapasitansi-tegangan (C-V) pada sampel dan komponen.
  • Pengujian listrik perangkat dan komponen tunggal pada substrat hingga 150 mm.
  • Karakterisasi semikonduktor di laboratorium riset.
  • Eksperimen probing khusus yang dirakit pada alas optical breadboard.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2009C1
  • Tapak (P x L x T): 50 x 35 x 60 cm
  • Alas: Optical breadboard aluminium, jarak lubang 25 mm
  • Isolasi getaran: Dudukan peredam getaran elastomer
  • Kapasitas platen: Hingga 8 Mikromanipulator Ossila
  • Rentang gerak stage: 25 mm (X, Y), 10 mm (Z), 360° (rotasi kasar), 15° (rotasi halus)
  • Ukuran substrat: Diameter 5 mm – 150 mm
  • Chuck: Aluminium, 155 mm, vakum (zona dapat dipilih)
  • Isolasi chuck: >99 MΩ pada 500 VDC
  • Arus bocor chuck: <75 pA pada ± 75 VDC
  • Mikroskop: Lensa zoom monokuler (zoom optik 0,6x – 5,0x)
  • Sensor kamera: Sony IMX415 (4K, 1/2,8")
  • Keluaran langsung: USB 3.0 & HDMI (hingga 60 fps pada resolusi penuh)
  • Perbesaran total: 37x – 309x
  • Pembacaan mikromanipulator / gerak terkecil: 10 μm / sekitar 4-8 µm; 5 µm / sekitar 2-4 µm
  • Probe: Tungsten, diameter ujung 20 μm, koneksi SMA

—

—

Produk Terkait