• Sistem Probe Ossila T2009D1 (System Manual Probe Station With Four Micromanipulators) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Stasiun Probe Manual dengan Empat Mikromanipulator T2009D1 Ossila

Stasiun Probe Manual dengan Empat Mikromanipulator T2009D1 Ossila
Rp 337.895.250,00
Rp 337.895.250,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Readout/minimum fine motion
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Ossila T2009D1 adalah stasiun probe manual (manual probe station) ringkas untuk pemeriksaan listrik secara manual yang stabil, terutama pada eksperimen elektronika skala kecil seperti pengukuran I-V dan C-V serta pengujian perangkat atau komponen tunggal. Konfigurasi ini dilengkapi empat mikromanipulator (micromanipulator), tersedia dengan pembacaan 10 µm (gerak terkecil sekitar 4-8 µm) atau 5 µm (gerak terkecil sekitar 2-4 µm).

Sampel berdiameter 5 mm hingga 150 mm ditahan oleh chuck vakum aluminium 155 mm dengan enam zona vakum yang dapat dipilih, dengan isolasi listrik >99 MΩ pada 500 VDC. Meja sampel bergerak 25 mm pada sumbu X dan Y serta 10 mm pada sumbu Z dengan resolusi 0,01 mm, ditambah rotasi kasar dan halus. Dudukan elastomer meredam getaran, sedangkan alasnya berupa optical breadboard aluminium dengan jarak lubang 25 mm untuk pemasangan perangkat tambahan.

Pengamatan dilakukan dengan mikroskop zoom monokuler (0,6x – 5,0x) dan kamera Sony IMX415 4K yang mengalirkan gambar melalui USB 3.0 dan HDMI hingga 60 fps ke monitor 15,6" 1080p pada lengan yang dapat diatur. Dudukan mikroskop yang dapat diayunkan menjaga akses ke meja sampel tetap leluasa. Platen baja tahan karat feromagnetik mampu menampung hingga delapan mikromanipulator Ossila.

Produk terkait

  • Karakterisasi arus-tegangan (I-V) pada perangkat elektronik kecil.
  • Pengukuran kapasitansi-tegangan (C-V) pada struktur uji.
  • Pengujian listrik perangkat dan komponen tunggal pada substrat berdiameter hingga 150 mm.
  • Karakterisasi semikonduktor yang memerlukan pemeriksaan manual yang stabil.
  • Penyusunan konfigurasi probing khusus dengan komponen tambahan pada alas optical breadboard.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2009D1
  • Tapak (P x L x T): 50 x 35 x 60 cm
  • Alas: Optical breadboard aluminium, jarak lubang 25 mm
  • Isolasi Getaran: Dudukan peredam getaran elastomer
  • Beban Maksimum: Total 880 N
  • Kapasitas Platen: Hingga 8 Mikromanipulator Ossila
  • Jangkauan Gerak Meja: 25 mm (X, Y), 10 mm (Z), 360° (rotasi kasar), 15° (rotasi halus)
  • Resolusi Meja: 0,01 mm (X, Y, Z), 0,1° (rotasi)
  • Ukuran Substrat: Diameter 5 mm – 150 mm
  • Chuck: Aluminium 155 mm, vakum (zona dapat dipilih)
  • Isolasi Chuck: >99 MΩ pada 500 VDC
  • Arus Bocor Chuck: <75 pA pada ± 75 VDC
  • Mikroskop: Lensa zoom monokuler (zoom optik 0,6x – 5,0x), perbesaran total 37x – 309x
  • Kamera: Sony IMX415 (4K, 1/2,8"), USB 3.0 & HDMI (hingga 60 fps pada resolusi penuh)
  • Pembacaan / Gerak Terkecil Mikromanipulator: 10 μm / sekitar 4-8 µm atau 5 µm / sekitar 2-4 µm
  • Probe: Tungsten, diameter ujung 20 μm, koneksi SMA, arus bocor <100 pA pada ± 75 VDC

—

—

Produk Terkait