• Sistem Probe Ossila T2009 (Electrical Characterization System Probe Station) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Ossila Electrical Characterization System (10 µm readout / 4-8 µm minimum fine motion) T2009E1

Ossila Electrical Characterization System (10 µm readout / 4-8 µm minimum fine motion) T2009E1
Rp 447.737.850,00
Rp 447.737.850,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Sistem Karakterisasi Listrik (Electrical Characterization System) Ossila T2009E1 adalah stasiun probe (probe station) manual lengkap yang dipadukan dengan source measure unit (SMU) dua kanal untuk pengujian I-V perangkat elektronik skala kecil, seperti sel surya (photovoltaics), LED, OLED, dan transistor. Varian ini memakai mikromanipulator dengan pembacaan mikrometer 10 µm dan gerak terkecil sekitar 4-8 µm.

Stasiun dibangun di atas optical breadboard aluminium dengan dudukan peredam getaran elastomer, serta platen baja tahan karat feromagnetik yang mampu menampung hingga 8 Mikromanipulator Ossila. Chuck vakum dengan zona yang dapat dipilih menerima substrat berdiameter 5 mm hingga 150 mm, ditahan oleh pompa diafragma bebas oli yang dilengkapi pengukur tekanan. Sampel diamati melalui lensa zoom monokuler (0,6x – 5,0x) dengan kamera Sony IMX415 4K hingga 60 fps ke monitor 15,6" 1080p pada lengan yang dapat diatur.

SMU menggabungkan dua kanal source measure, dua kanal sensor tegangan presisi, dan satu kanal shutter/trigger dalam satu papan. Rentang tegangannya -10 V hingga +10 V dengan lima rentang arus, dari 10 nA hingga 200 mA, 10 pengaturan kecepatan/resolusi, serta perangkat lunak pengukuran gratis.

Produk terkait

  • Pengukuran karakteristik I-V perangkat fotovoltaik.
  • Karakterisasi LED dan OLED pada substrat hingga diameter 150 mm.
  • Pengujian transistor dan perangkat semikonduktor DC lainnya menggunakan probe tungsten berarus bocor rendah.
  • Sinkronisasi pengukuran dengan instrumen lain melalui kanal shutter/trigger.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2009E1
  • Tapak (P x L x T): 50 x 35 x 60 cm
  • Resolusi Pembacaan Mikrometer: 10 μm
  • Gerak Terkecil yang Dapat Dicapai: Sekitar 4-8 µm
  • Pitch Ulir Kepala Mikrometer: 50 ulir per inci
  • Jarak Gerak Stage: 25 mm (X, Y), 10 mm (Z), 360° (rotasi kasar), 15° (rotasi halus)
  • Ukuran Substrat: Diameter 5 mm hingga 150 mm
  • Jenis Chuck: Vakum (zona dapat dipilih)
  • Arus Bocor Chuck: <75 pA pada ± 75 VDC
  • Jenis Probe: Tungsten, diameter ujung 20 μm
  • Arus Bocor Probe: <100 pA pada ± 75 VDC
  • Sensor Kamera: Sony IMX415 (4K, 1/2,8")
  • Perbesaran Total: 37x – 309x
  • Rentang Tegangan SMU: ±10 V
  • Rentang Arus SMU: 10 nA hingga 200 mA
  • Jenis Pompa Vakum: Diafragma (bebas oli)

Pompa vakum hanya diperuntukkan bagi udara serta gas kering yang tidak mudah terbakar dan tidak korosif (misalnya nitrogen, argon), dan saluran buangnya hanya boleh mengalirkan gas bersih tanpa cairan atau gas yang perlu dipulihkan. Batasi tegangan BNC shutter/trigger pada 5 V karena tegangan lebih tinggi dapat merusak port.

—

Produk Terkait