• Sistem Probe Ossila T2001A4-P2010B1 (System Four Point Probe Original Both Head) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Ossila Four Point Probe Original Sha-tipped probe head T2001B4

Ossila Four Point Probe Original Sha-tipped probe head T2001B4
Rp 104.611.500,00
Rp 104.611.500,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Ossila Four-Point Probe Original (T2001B4) dengan kepala probe ujung tajam (sharp-tipped probe head) adalah sistem meja untuk mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas film tipis hanya dalam hitungan detik. Rentang pengukurannya 100 mΩ/sq hingga 10 MΩ/sq, dengan arus 1 μA hingga 200 mA dan tegangan 100 μV hingga 10 V.

Kepala probe ujung tajam dirancang untuk material keras yang secara alami membentuk lapisan oksida isolator, seperti silikon. Probe tungsten karbida berlapis nikel dengan diameter ujung 0,08 mm ini mampu memberikan gaya maksimum 197,43 gf untuk menembus lapisan oksida dan menyentuh material secara langsung. Jarak antarprobe 1,6 mm (0,063").

Model Original dikendalikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite, yang menghitung faktor koreksi geometri, menentukan resistivitas dan konduktivitas dari dimensi sampel, serta menyimpan data dalam format .csv. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara kontrol ketinggian mikrometer dan meja sampel antiselip membantu kontak listrik yang baik di setiap pengukuran.

Produk terkait

  • Pengukuran resistansi lembaran pada silikon dan material lain yang memiliki lapisan oksida isolator alami.
  • Karakterisasi resistivitas dan konduktivitas film tipis berdasarkan ketebalan sampel.
  • Evaluasi lapisan konduktif seperti indium tin oxide melalui pengukuran resistansi lembaran.
  • Karakterisasi listrik rutin untuk sampel bulat atau persegi panjang hingga 152,4 mm.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2001B4
  • Jenis probe: Ujung tajam, tungsten karbida berlapis nikel
  • Diameter ujung: 0,08 mm
  • Gaya probe maksimum: 197,43 gf
  • Jarak antarprobe: 1,6 mm (0,063")
  • Rentang resistansi lembaran: 100 mΩ/sq – 10 MΩ/sq
  • Rentang tegangan terapan: ±10 mV – ±10 V
  • Presisi pengukuran tegangan: ±333 μV
  • Rentang pengukuran arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)
  • Ukuran sampel persegi panjang: Sisi panjang minimum: 6 mm (0,24"); Sisi pendek maksimum: 152,4 mm (6")
  • Diameter sampel bulat: 6 mm – 152,4 mm (0,24" – 6,00")
  • Ketebalan sampel maksimum: 5 mm (0,2")
  • Dimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71" x 5,91" x 9,45")
  • Perangkat lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)
  • Konektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)

Penggunaan kepala probe ujung tajam memerlukan firmware layar versi 1.1.0 atau yang lebih baru pada instrumen. Kepala probe dapat menambah galat pengukuran hingga 4%, sehingga perlu diperhitungkan saat menilai hasil.

—

Produk Terkait