• Sistem Probe Ossila T2001A4-P2010B1 (System Four Point Probe Original Both Head) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Ossila Four Point Probe Original Both probe head T2001A4-P2010B1

Ossila Four Point Probe Original Both probe head T2001A4-P2010B1
Rp 109.842.600,00
Rp 109.842.600,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Ossila Four-Point Probe Original (T2001A4-P2010B1) adalah alat ukur empat titik (four-point probe) untuk menentukan resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas lapisan tipis. Konfigurasi ini dilengkapi dua probe head, yaitu satu berujung lunak dan satu berujung tajam, sehingga satu instrumen dapat menangani lapisan yang rapuh maupun material keras seperti silikon. Model Original dioperasikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite.

Probe head ujung lunak memakai kontak bulat berpegas berlapis emas yang memberikan gaya seragam 60 gram, cocok untuk material organik dan film yang sangat tipis. Probe head ujung tajam menggunakan probe tungsten karbida berlapis nikel yang mampu menembus lapisan oksida isolator dengan gaya maksimum 197,43 gf.

Rentang pengukuran resistansi lembaran mencakup 100 mΩ/sq hingga 10 MΩ/sq. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara pengatur ketinggian mikrometer dan stage antiselip membantu kontak listrik yang baik. Perangkat lunak menghitung faktor koreksi geometri dan menyimpan data dalam file .csv.

Produk terkait

  • Mengukur resistansi lembaran pada lapisan tipis seperti indium tin oxide.
  • Mengkarakterisasi film organik yang rapuh atau lapisan sangat tipis dengan probe head ujung lunak.
  • Menguji silikon dan material lain yang membentuk lapisan oksida alami dengan probe head ujung tajam.
  • Menghitung resistivitas dan konduktivitas sampel dari resistansi lembaran dan ketebalan yang dimasukkan.
  • Merekam data pengukuran ke file .csv untuk diolah di perangkat lunak analisis.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2001A4-P2010B1
  • Rentang Resistansi Lembaran: 100 mΩ/sq – 10 MΩ/sq
  • Rentang Tegangan Terpasang: ±10 mV – ±10 V
  • Presisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV
  • Rentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)
  • Dimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm
  • Probe Head yang Disertakan: 1 x probe head ujung lunak & 1 x probe head ujung tajam
  • Probe Ujung Lunak: Bulat, berpegas, berlapis emas; radius 0,24 mm; gaya 60 gram
  • Probe Ujung Tajam: Tungsten karbida berlapis nikel; diameter ujung 0,08 mm; gaya maks. 197,43 gf
  • Jarak Probe (Lunak / Tajam): 1,27 mm / 1,6 mm
  • Diameter Sampel Bulat (Lunak / Tajam): 5 mm – 152,4 mm / 6 mm – 152,4 mm
  • Ketebalan Sampel Maksimum (Lunak / Tajam): 8 mm / 5 mm
  • Perangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)
  • Konektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)

Lapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau pada sampel yang korosif, abrasif, maupun asam, terutama saat dialiri arus. Emas juga dapat berdifusi ke tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif pada arus tinggi. Gunakan probe head ujung tajam untuk silikon dan material pembentuk oksida.

—

Produk Terkait