• Sistem Probe Ossila T2001A5-P2010B1 (System Four Point Probe Plus Both Head) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Ossila Four Point Probe Plus Soft-tipped probe head T2001A5

Ossila Four Point Probe Plus Soft-tipped probe head T2001A5
Rp 109.842.600,00
Rp 109.842.600,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Ossila Four-Point Probe Plus (T2001A5) adalah sistem probe empat titik (four-point probe) meja untuk mengukur resistansi lembaran (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas film tipis hanya dalam hitungan detik. Konfigurasi ini dilengkapi kepala probe ujung lunak (soft-tipped probe head) yang dirancang untuk sampel rapuh seperti material organik dan film yang sangat tipis.

Probe berlapis emas memiliki ujung membulat dengan radius 0,24 mm dan dipasang pada pegas, sehingga tertarik masuk ke kepala probe saat menyentuh sampel dan memberikan gaya seragam 60 gram tanpa merusak permukaan. Probe ujung lunak tidak cocok untuk silikon atau material lain yang secara alami membentuk lapisan oksida isolator. Sistem ini mencakup resistansi lembaran 100 mΩ/sq hingga 10 MΩ/sq, arus 1 μA hingga 200 mA, dan tegangan 100 μV hingga 10 V.

Model Plus memiliki layar terintegrasi sehingga pengukuran dapat dilakukan cukup dengan satu tombol tanpa PC, praktis untuk digunakan di dalam glove box. Alat ini juga dapat dikendalikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite yang menyimpan data dalam format .csv. Pengukuran polaritas positif dan negatif menghilangkan offset tegangan, sementara kontrol ketinggian mikrometer dan meja antiselip membantu kontak listrik yang konsisten.

Produk terkait

  • Pengukuran resistansi lembaran pada film tipis yang rapuh dan material organik.
  • Perhitungan resistivitas dan konduktivitas dari resistansi lembaran dan dimensi sampel yang dimasukkan.
  • Karakterisasi film tipis secara mandiri di dalam glove box menggunakan layar terintegrasi.
  • Penelitian perubahan lapisan konduktif seperti indium tin oxide melalui pengukuran resistansi lembaran.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2001A5
  • Rentang Resistansi Lembaran: 100 mΩ/sq – 10 MΩ/sq
  • Rentang Tegangan Terapan: ±10 mV – ±10 V
  • Presisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV
  • Rentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)
  • Jenis Probe: Ujung lunak, berlapis emas, berpegas
  • Radius Ujung Probe: 0,24 mm
  • Gaya Probe: 60 gram
  • Jarak Antar Probe: 1,27 mm (0,05")
  • Ukuran Sampel Persegi Panjang: Sisi panjang minimum: 5 mm (0,20"); Sisi pendek maksimum: 152,4 mm (6")
  • Diameter Sampel Bulat: 5 mm – 152,4 mm (0,20" – 6,00")
  • Ketebalan Sampel Maksimum: 8 mm (0,31")
  • Dimensi (L x T x P): 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71" x 5,91" x 9,45")
  • Perangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)
  • Konektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)

Lapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau saat digunakan pada sampel korosif, abrasif, atau asam, terutama di bawah beban listrik. Emas juga dapat berdifusi ke material seperti tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif pada arus tinggi.

—

Produk Terkait