• Sistem Probe Ossila T2001A5-P2010B1 (System Four Point Probe Plus Both Head) - AMI Scientific
1 1

Ossila

Ossila Four Point Probe Plus Both probe head T2001A5-P2010B1

Ossila Four Point Probe Plus Both probe head T2001A5-P2010B1
Rp 130.764.900,00
Rp 130.764.900,00
Obral Habis
Biaya pengiriman dihitung saat checkout.
Pembayaran hanya melalui request quotation dan dilakukan setelah tim kami menghubungi Anda. Mohon cantumkan nomor WhatsApp aktif untuk konfirmasi pesanan & pembuatan invoice. Estimasi pengiriman 1-2 bulan setelah pembayaran. Jika belum ada respons, hubungi +62 823-2282-4346.

Lihat detail lengkap

Ossila Four-Point Probe Plus adalah alat ukur empat titik (four-point probe) untuk meja laboratorium yang menentukan resistansi lembar (sheet resistance), resistivitas, dan konduktivitas lapisan tipis hanya dalam hitungan detik. Paket ini dilengkapi dua kepala probe yang dapat ditukar, yaitu ujung lunak dan ujung tajam, sehingga satu sistem mampu menangani sampel rapuh maupun keras pada rentang resistansi lembar 100 mΩ/sq hingga 10 MΩ/sq.

Kepala probe ujung lunak memakai pin membulat berlapis emas dengan pegas yang memberikan gaya seragam 60 gram, sehingga aman untuk material organik dan film sangat tipis. Kepala probe ujung tajam memakai pin tungsten karbida berlapis nikel dengan gaya maksimum 197,43 gf untuk menembus lapisan oksida alami pada material seperti silikon.

Model Plus memiliki layar bawaan sehingga pengukuran dapat dilakukan cukup dengan satu tombol tanpa PC, cocok untuk pemakaian di dalam glove box. Alat juga dapat dikendalikan melalui PC dengan perangkat lunak gratis Ossila Sheet Resistance Lite yang menyimpan data dalam format .csv dan menghitung faktor koreksi geometri. Pengukuran polaritas positif dan negatif, kontrol ketinggian mikrometer, serta stage antiselip membantu kontak yang akurat dan konsisten.

Produk terkait

  • Mengukur resistansi lembar lapisan tipis pada rentang 100 mΩ/sq hingga 10 MΩ/sq.
  • Karakterisasi film organik atau film sangat tipis yang rapuh menggunakan kepala probe ujung lunak.
  • Pengukuran silikon dan material lain berlapis oksida isolator menggunakan kepala probe ujung tajam.
  • Pengukuran mandiri di dalam glove box memanfaatkan layar bawaan.
  • Menghitung resistivitas dan konduktivitas lapisan dari resistansi lembar dan ketebalan sampel.
  • Studi perubahan resistansi lembar pada lapisan seperti indium tin oxide.

Merek Ossila
Nomor CAS —
Rumus molekul —
Kemurnian —
Kategori —
Ukuran kemasan —
Bentuk fisik —
Penyimpanan —
  • Kode produk: T2001A5-P2010B1
  • Rentang Resistansi Lembar: 100 mΩ/sq – 10 MΩ/sq
  • Rentang Tegangan Terapan: ±10 mV – ±10 V
  • Presisi Pengukuran Tegangan: ±333 μV
  • Rentang Pengukuran Arus: ±20 μA – ±200 mA (5 rentang)
  • Dimensi (L x T x D): 145 mm x 150 mm x 240 mm
  • Kepala Probe yang Disertakan: 1 x kepala probe ujung lunak & 1 x kepala probe ujung tajam
  • Probe Ujung Lunak: Membulat, berlapis emas, berpegas; gaya 60 gram; radius ujung 0,24 mm
  • Probe Ujung Tajam: Tungsten karbida berlapis nikel; gaya maks. 197,43 gf; diameter ujung 0,08 mm
  • Jarak Antar Probe (lunak / tajam): 1,27 mm / 1,6 mm
  • Diameter Sampel Bulat (lunak / tajam): 5 mm – 152,4 mm / 6 mm – 152,4 mm
  • Ketebalan Sampel Maksimum (lunak / tajam): 8 mm / 5 mm
  • Perangkat Lunak: Ossila Sheet Resistance Lite (Windows 11, 64-bit)
  • Konektivitas: USB 2.0, atau Ethernet (memerlukan DHCP)

Lapisan emas pada probe ujung lunak dapat menurun kualitasnya di lingkungan lembap atau saat digunakan pada sampel korosif, abrasif, atau asam, terutama di bawah beban listrik. Emas juga dapat berdifusi ke tembaga, aluminium, timah, dan silikon, khususnya pada suhu tinggi akibat pemanasan resistif pada arus besar. Probe ujung lunak tidak cocok untuk silikon atau material yang membentuk lapisan oksida isolator. Kepala probe ujung tajam memerlukan firmware layar versi 1.1.0 atau yang lebih baru.

—

Produk Terkait