Four Point Probe

Four point probe mengukur sheet resistance dan resistivitas: arus dialirkan lewat dua probe luar, sementara dua probe dalam mengukur tegangan, sehingga hambatan kontak tidak memengaruhi hasil. Alat ini dipakai untuk film konduktif, kaca ITO dan FTO, semikonduktor, dan pelapis.

Cara memilih

  • Sistem: Ossila Four Point Probe Original (T2001A4/B4) atau Plus (T2001A5/B5).
  • Kepala probe: ujung lunak untuk film tipis yang rapuh, ujung tajam untuk permukaan keras, atau keduanya; kepala pengganti P2010A2 dan P2010B1.

Butuh bantuan memilih model atau penawaran resmi (PO, faktur pajak, e-katalog)? Hubungi tim AMI Scientific lewat tombol WhatsApp.

8 produk